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Record 1,  Textual support,  English

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

The contact mode atomic force microscope(AFM) uses a tip that is connected to a cantilever which has a spring constant of about 0. 01-0. 3 N/m.  1, record 1, English, - contact%20mode%20atomic%20force%20microscope

Record 1,  Textual support,  French

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

[...] la version 3100 est composée d’un microscope à force atomique en mode contact ou en mode tapping, mode qui permet d’étudier la surface d’échantillons de toute taille. Elle est équipée de moteurs pas-à-pas qui permettent une étude exhaustive à grande échelle des échantillons.  1, record 1, French, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20contact

Record 1,  Textual support,  Spanish

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Microscopio de fuerza atómica [...] Tiene resolución de fracciones de angstrom. Su sonda está formada por un cantilever microscópico con una fina punta en su extremo encargada de rastrear la muestra. Puede trabajar en modo "contacto" y en modo "sin contacto". En el primer caso la punta toca la muestra y ésta ejerce una fuerza sobre la primera a medida que la sonda se desplaza sobre la muestra en el plano XY.  1, record 1, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 2 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  3, record 1, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  4, record 1, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record 2,  Textual support,  English

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Since 1995, the noncontact atomic force microscope(NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics : it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions...  1, record 2, English, - noncontact%20atomic%20force%20microscope

Record 2,  Textual support,  French

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Microscope AFM en régime de non-contact (NC) avec détection par modulation de fréquence. Dans ce type d'instrument, la sonde oscille à sa fréquence propre de l'ordre de 40 kHz. Lorsque la sonde se trouve à proximité immédiate d'une surface de référence, les effets des forces de Van der Waals modifient légèrement cette oscillation. La détection de ces modulations permet de desceller la structure subnanométrique de la surface de référence (l'échantillon). Sont inclus des scanners à tube piezo pour le NC-AFM avec amplificateurs haute tension.  2, record 2, French, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20non%2Dcontact

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

Dans le mode non-contact, la pointe [du microscope] est attirée. Les forces attractives étant très faibles, il faut travailler au froid et sous vide pour éviter l’humidité et l’agitation thermique.  1, record 2, French, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20non%2Dcontact

Record 2,  Textual support,  Spanish

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  2, record 2, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 2 CONT

El principio de funcionamiento del microscopio de fuerza magnética es, en principio, el de un AFM en régimen de no contacto: un soporte flexible fijado a un extremo y una punta montada en el otro extremo.  4, record 2, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

En el modo “sin contacto” el cantilever oscila a una frecuencia próxima a la resonancia y son las interacciones electrostáticas entre punta y muestra las que modifican la oscilación del cantilever (en frecuencia, amplitud o fase).  5, record 2, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 2 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  6, record 2, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record 3,  Textual support,  English

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

We present a novel technique in which a reflection scanning near-field optical microscope (SNOM) is used for direct writing of nano-scale patterns into hydrogen-passivated silicon surfaces. The reflection SNOM is operated as a combined shear-force/near-field microscope enabling simultaneous imaging of topographical and optical properties with subwavelength resolution. ... Beside high resolution optical imaging (<50 nm) and patterning of hydrogen-passivated silicon surfaces, the SNOM can also be used for transferring nano-scale patterns into ordinary photo resist with a typical resolution of 50-100 nm. The SNOM thereby overcomes the far-field diffraction limit of conventional photolithography.  5, record 3, English, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscope

Record number: 3, Textual support number: 2 CONT

Near-field scanning optical microscope [...] In this case the standard AFM [atomic force microscope] cantilever is replaced by something that can act as a waveguide for light(typically an optical fibre). Light is passed through the waveguide onto the sample and resulting light is detected via various means...  3, record 3, English, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscope

Record 3,  Textual support,  French

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

Microscope optique à balayage à champ proche. Il est possible d'éviter la limitation de résolution due aux conditions d'Abbe pour caractériser plus finement la microgéométrie de surface. Grâce à une fibre optique, on éclaire la surface par un très fin pinceau en incidence évanescente et l'on recueille la lumière diffractée; en balayant la surface on construit ainsi une image point par point.  1, record 3, French, - microscope%20optique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20champ%20proche

Record 3,  Textual support,  Spanish

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

[...] a principios de 1980 se inventó el microscopio óptico de barrido de campo cercano (SNOM o NSOM), en el que una fuente de luz nanoscópica, generalmente una punta de fibra óptica con una apertura más pequeña de 100 nm, barre la superficie de la muestra en la región llamada "campo óptico cercano".  2, record 3, Spanish, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Estos microscopios rastrean la muestra mediante un haz de luz que se emite (o se recibe, según el diseño) a través de una pequeña abertura situada en el extremo de la punta de la sonda, que no es más que una pequeña fibra óptica cubierta de un metal que refleja la luz y evita pérdidas. El diámetro de la abertura y la distancia sonda-muestra tienen dimensiones similares e inferiores a la longitud de onda de la luz que se emplea.  3, record 3, Spanish, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 3, Textual support number: 2 OBS

SNOM: según su sigla en inglés (scanning near-field optical microscope).  4, record 3, Spanish, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 3, Textual support number: 3 OBS

NSOM: según su sigla en inglés (near-field scanning optical microscope).  4, record 3, Spanish, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record 4,  Textual support,  English

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

The Dimension 3000 Scanning Probe Microscope(SPM) encompasses several techniques for studying surface properties of materials at the atomic to micron scale. It measures surface structure and produces images with three-dimensional information. It measures surface roughness and maps the surface based on atomic force, friction, magnetic field, relative stiffness, or electric field gradient. Typical applications : 1. Studying surface of optical components(especially mirrors) [;] 2. Mapping of magnetic properties of tapes[;] 3. Measuring surface pit depth and width. Mode of operation : An atomically sharp tip, held at the end of a cantilever, is scanned in a regular pattern across a surface. As the tip probes the surface, the interaction between the surface and tip is measured using a laser-based system.  3, record 4, English, - scanning%20probe%20microscope

Record 4,  Textual support,  French

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Le développement d'une famille d’outils d’analyse s'est poursuivie avec la réalisation du système SONOS, microscope-sonde à balayage (SPM), exploitable jusque dans le domaine des nanotechnologies, qui pourrait déboucher sur des premières applications destinées à l’ISS [Station spatiale internationale] avant d’être utilisé pour les missions d’exploration extraterrestre.  1, record 4, French, - microscope%2Dsonde%20%C3%A0%20balayage

Record 4,  Textual support,  Spanish

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Los microscopios de sonda de barrido [...] utilizan una sonda que rastrea físicamente la muestra que se pretende estudiar. La sonda se mueve mecánicamente y recorre toda la muestra detectando cierta interacción que se produce entre ambas en cada posición, lo que permitirá la construcción de una imagen topográfica de ésta. Tienen resolución nanométrica, trabajan en condiciones normales de presión y temperatura y, frente a otros tipos de microscopios, no requieren apenas preparación de la muestra.  1, record 4, Spanish, - microscopio%20de%20sonda%20de%20barrido

Record 5,  Textual support,  English

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

A device in which the deflection of a sharp stylus mounted on a soft spring is monitored as the stylus is moved across a surface.  5, record 5, English, - atomic%20force%20microscope

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

Unlike the STM, the AFM [Atomic Force Microscope] can scan nonconducting samples. It can do this because it uses optical technology, direct contact, and a laser, to sense the position of the tip in relation to the sample. The tip is very sharp and protrudes from a small flexible cantilever. The laser reflects off the top side of the tip and is directed to a split photodiode. The height of the surface of the sample deflects the cantilever causing the position of the laser on the photodiode to change. The difference in voltage from the photodiode elements provide a "picture" of the surface.  6, record 5, English, - atomic%20force%20microscope

Record 5,  Textual support,  French

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

Microscope où une pointe très fine se déplaçant à la surface de l'échantillon étudié, enregistre, grâce à un dispositif d'asservissement, la force d'interaction de Van der Waals entre la pointe sondeuse et la surface de l'échantillon.  5, record 5, French, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

Le microscope à force atomique est un microscope à palpeur, c'est-à-dire que la sonde est en interaction mécanique (attractive ou répulsive) avec la surface à caractériser.  6, record 5, French, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Record 5,  Textual support,  Spanish

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

Microscopio de proximidad basado en la detección de la fuerza que actúa entre la punta del microscopio y una [superficie] metálica o aislante [...] monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm [nanómetros] que se localiza al final de un cantilever.  1, record 5, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerzas atómicas […] fue inventado en el año 1986 por G. Binning, C. Quate y Ch. Gerber como un instrumento capaz de obtener con gran resolución imágenes de la topografía de una superficie.  2, record 5, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Record 6,  Textual support,  English

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

Nanolithography with the STM [scanning tunnelling microscope]. ... research on metallic structures with feature sizes smaller than about 100 nm is just beginning. The goal of our group is the production of metallic circuit lines smaller than 100 nm and the investigation of transport and magnetic properties.  3, record 6, English, - nanolithography

Record number: 6, Textual support number: 2 CONT

Nanolithography is the art and science of etching, writing, or printing at the microscopic level, where the dimensions of characters are on the order of nanometres. This includes various methods of modifying semiconductor chips at the atomic level for the purpose of fabricating integrated circuits(ICs). Instruments used in nanolithography include the scanning tunnelling microscope(STM) and the atomic force microscope(AFM). Both allow surface viewing in fine detail without necessarily modifying it. Either the STM or the AFM can be used to etch, write, or print on a surface in single-atom dimensions.  4, record 6, English, - nanolithography

Record 6,  Textual support,  French

Record number: 6, Textual support number: 1 DEF

Technique de gravure des circuits intégrés ayant des dimensions très inférieures au micromètre.  3, record 6, French, - nanolithographie

Record number: 6, Textual support number: 1 OBS

La nanolithographie permet de fabriquer des circuits électroniques extrêmement denses et d'augmenter ainsi la vitesse de calcul des microprocesseurs et la capacité des mémoires. Alors que les procédés de microlithographie utilisent la lumière visible ou ultraviolette pour projeter l'image du circuit sur le substrat à graver (silicium), la nanolithographie fait appel à un rayonnement de longueur d'onde plus courte (rayons X) ou à un faisceau d'électrons.  3, record 6, French, - nanolithographie

Record number: 6, Textual support number: 1 PHR

Nanolithographie stylo à plume.  4, record 6, French, - nanolithographie

Record 6,  Textual support,  Spanish

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

El desafío desde la ciencia de los materiales implica el mejoramiento de técnicas tales como la nanolitografía, que permite grabar circuitos de pequeña escala sobre sustratos semiconductores [...]  4, record 6, Spanish, - nanolitograf%C3%ADa

Record 7,  Textual support,  English

Record number: 7, Textual support number: 1 CONT

Dip Pen Nanolithography(DPN) is a scanning probe lithography technique where an atomic force microscope tip is used to transfer molecules to a surface via a solvent meniscus. This technique allows surface patterning on scales of under 100 nanometres.  2, record 7, English, - dip%20pen%20nanolithography

Record number: 7, Textual support number: 1 OBS

Meniscus, plural: menisci, from the Greek for "crescent," is a curve in the surface of a molecular substance and is produced in response to the surface of the container or another object. It can be either concave or convex. A convex meniscus occurs when the molecules have a stronger attraction to each other than to the container.  3, record 7, English, - dip%20pen%20nanolithography

Record 7,  Textual support,  French

Record number: 7, Textual support number: 1 DEF

Technique permettant de reproduire un motif de taille nanométrique en déposant sur un substrat, à l'aide de la pointe d'un microscope à force atomique, une solution de molécules organiques qui s'auto-assemblent pour former un trait.  2, record 7, French, - %20nanolithographie%20stylo%20%C3%A0%20plume

Record 7,  Textual support,  Spanish

Record number: 7, Textual support number: 1 CONT

El sistema de nanolitografía por dip-pen se compone de un microscopio de fuerza atómica (Atomic Force Microscope, AFM), una cabina de control ambiental (temperatura y humedad relativa) y el software de control adecuado para realizar nanolitografía. El proceso de dip-pen permite depositar compuestos como biomoléculas, resinas, polímeros y otros materiales con resolución nanométrica y sin necesidad de máscaras […]  1, record 7, Spanish, - nanolitograf%C3%ADa%20por%20dip%2Dpen

Record 8,  Textual support,  English

Record number: 8, Textual support number: 1 CONT

MIDAS(Micro Imaging Dust Analysis System) is one of the on-board instruments imaging cometary dust for the first time. The MIDAS experiment is based on an atomic force microscope(AFM) combined with a dust collector expected to image individual particles with a resolution of 4 nm.  2, record 8, English, - micro%2Dimaging%20dust%20analysis%20system

Record 8,  Textual support,  French

Record 8,  Textual support,  Spanish